In compression, on the other hand,

In compression, on the other hand, cell wall buckling is most probably the dominating mechanism of deformation, at least for the lower density foams. For higher density foams, the cell walls are both smaller and thicker, suppressing buckling. This explains why the compression strength is that much lower than the tensile strength for the lower density foam. The normalised fatigue data in compression and shear are shown in Fig. 8b and c. They do not collapse into one single generic curve. In compression there is no correlation at all with the two lower densities having a different slope than WF200. However, the WF110 and WF200 are pretty close in terms of normalised stress (Fig. 8b) but with different slopes. In shear we see that the WF110 and WF200 normalised fatigue life curves have the same slope, but at slightly different magnitudes. The discrepancy could either be some influence from cell wall buckling or simply that the density scaling is different in shear.An open pending question that cannot be answered at this point is how the failure mechanism in shear fatigue loading actually looks and eventually leads to failure for the lower density foams. The face/core interface separates (debonding failure) after a certain number of loading cycles, but why at the interface and what is the local failure mechanism at cell size level? This is a question for future research.

結果 (繁體中文) 1:

在壓縮中，在另一方面，細胞壁屈曲是最有可能的變形的主導機制，至少對於較低密度泡沫體。對於較高密度的泡沫，細胞壁是更小和更厚，抑制屈曲。這就解釋了為什麼抗壓強度是比較低密度泡沫拉伸強度要低得多。在壓縮的歸一化疲勞數據和剪切在圖8b和c中示出。他們不塌陷成一個單一的通用曲線。在壓縮有在所有與具有不同的斜率比WF200兩個較低的密度沒有相關性。然而，WF110和WF200是相當接近的歸一化的應力（圖8b）的條件，但具有不同的斜率。在剪切我們看到，WF110和WF200歸疲勞壽命曲線具有相同的斜率，但是在略微不同的量值。

不能在這一點上回答一個開放的懸而未決的問題是在剪切疲勞載荷失效機理如何實際上看起來並最終導致失敗的較低密度泡沫。面部/核心接口分離（剝離破壞）一定數量的負載週期之後，但為什麼在界面上，什麼是在細胞大小級別的局部破壞機制？這是未來研究的一個問題。

結果 (繁體中文) 2:

另一方面，在壓縮中，細胞壁扭曲很可能是變形的主要機制，至少對於低密度泡沫而言是這樣。對於高密度泡沫，細胞壁更小、更厚，抑制屈曲。這解釋了為什麼低密度泡沫的壓縮強度比拉伸強度低得多。壓縮和剪切中的標準化疲勞資料如圖8b和c所示。它們不會折疊成單個通用曲線。在壓縮中，與兩個較低的密度與 WF200 的斜率不同沒有任何相關性。然而，WF110和WF200在正態應力（圖8b）方面非常接近，但坡度不同。在剪切中，我們看到 WF110 和 WF200 標準化疲勞壽命曲線具有相同的斜率，但幅度略有不同。這種差異可能是細胞壁扭曲的影響，或者僅僅是因為剪切的密度縮放不同。

目前無法回答的一個未決問題是剪切疲勞載荷中的故障機制實際上如何看起來並最終導致低密度泡沫的失效。面/核心介面在一定數量的載入週期後分離（去粘故障），但為什麼在介面和什麼是單元大小級別的本地故障機制？這是一個供未來研究的問題。

結果 (繁體中文) 3:

另一方面，在壓縮過程中，至少對於低密度泡沫資料，胞壁屈曲可能是主要的變形機制。對於密度較高的泡沫，泡孔壁既小又厚，抑制了屈曲。這就解釋了為什麼低密度泡沫的抗壓強度遠低於抗拉强度。壓縮和剪切的標準化疲勞數據如圖8b和c所示。它們不會塌陷成一條通用曲線。在壓縮過程中，與WF200具有不同斜率的兩個較低密度之間根本沒有相關性。然而，WF110和WF200在正態應力方面非常接近（圖8b），但具有不同的斜率。在剪切作用下，我們看到WF110和WF200的標準化疲勞壽命曲線具有相同的斜率，但在稍有不同的量級。這種差异可能是由於細胞壁屈曲造成的，也可能只是由於剪切作用下的密度標度不同造成的。
現時還不能回答的一個懸而未決的問題是，剪切疲勞載荷下的失效機制實際上是如何看待的，並最終導致低密度泡沫的失效。在一定數量的加載迴圈後，面/芯介面分離（脫粘失效），但為什麼在介面分離，在單元尺寸級別的局部失效機制是什麼？這是一個有待進一步研究的問題。