Similarly, a portion of the side tr

Similarly, a portion of the side trace 534 on the membrane overlaps a portion of the side trace 504 on the surface of the interface board 500 and a portion of the membrane side trace 532 overlaps a portion of the interface board waveguide side trace 506. On the side (ground) traces, the pair 546 of raised pads 540 nearest the center trace 502 are located as close to the inner edge of the trace as is permitted by the tolerance to misalignment and the second pair 548 of raised pads are preferably located nearer the center line of the membrane trace than the second edge of the trace. The electro-magnetic field is carried in the region between the traces of the waveguide and locating the pads of interconnecting structure closer to the region in which the electro-magnetic field is confined reduces the inductance of the connection.The accuracy of measurements performed with the membrane probing apparatus, particularly at frequencies in the radio and microwave frequency ranges, is improved by optimizing the impedance of the interface between co-axial cables, interconnecting the test instrumentation and the probing apparatus, and the co-planar waveguide that extends the signal path to the contact tips. A longer service life and lower operating cost for a membrane probing apparatus is achievable by including the contact tips on an elastic coupon that is attachable to a membrane that includes a plurality of traces over which signals, data and power can be transmitted. Replacing the probe needles of a needle type probing apparatus with a coupon attachable to a space transformer and including elastically supported contact tips can also improve the performance of a needle-type probing apparatus by substantially lower the inductance of the apparatus.The detailed description, above, sets forth numerous specific details to provide a thorough understanding of the present invention. However, those skilled in the art will appreciate that the present invention may be practiced without these specific details. In other instances, well known methods, procedures, components, and circuitry have not been described in detail to avoid obscuring the present invention.All the references cited herein are incorporated by reference.The terms and expressions that have been employed in the foregoing specification are used as terms of description and not of limitation, and there is no intention, in the use of such terms and expressions, of excluding equivalents of the features shown and described or portions thereof, it being recognized that the scope of the invention is defined and limited only by the claims that follow.

結果 (繁體中文) 1:

同樣地，在膜的一側跡 的電磁場在所述區域中的波導的痕跡和定位更接近於在其中電磁場被限制降低了連接的電感的區域互連結構的焊盤之間進行。

與膜進行的測量的準確度探測裝置，特別是在射頻和微波頻率範圍的頻率，通過優化共軸電纜之間的接口的阻抗，互連測試儀器和所述探測裝置的改善，和所述共平面波導延伸到接觸尖端的信號路徑。更長的使用壽命和更低的操作成本的膜探測裝置是通過包括接觸尖端上的彈性優惠券，其可連接到包括多個在其上的信號，數據和電源可以被傳輸跡線的膜可實現的。與優惠券附連更換針型探測裝置的探測針至空間變換器，並且包括彈性地支撐接觸尖端也可以提高針型探測裝置通過基本上降低裝置的電感的性能。

的詳細描述，上面闡述了許多具體細節以提供對本發明的透徹理解。然而，本領域的技術人員將理解的是，本發明可以在沒有這些具體細節的情況下實踐。在其它情況下，眾所周知的方法，過程，組件和電路沒有詳細描述，以避免模糊本發明。

所有引用的參考文獻在本文中引用作為參考。

已在前述說明書中採用的術語和表達被用作描述的術語而不是限制，並且沒有意圖，在使用排除所示和所述特徵的等同物的這些術語和表達，以及描述或其部分，應當認識到，本發明的範圍僅由隨後的權利要求限定和限制。

結果 (繁體中文) 2:

同樣，膜上的側痕534部分重疊介面板500表面的側痕504的一部分，膜側痕532的一部分重疊介面板波導側跟蹤506的一部分。在側（接地）軌跡上，凸起墊 546 的對 546 最接近中心軌跡 502 的位置與線距的內邊緣一樣接近，且公差允許錯位，而第二對 548 凸起墊優選位於靠近中心線附近 膜的軌跡比第二邊緣的軌跡。電磁場在波導的軌跡和定位互連結構墊靠近電磁場被限制的區域之間進行，降低了連接的電感。

通過優化共軸電纜之間的介面阻抗，互連測試，提高了使用膜探測裝置進行的測量精度，特別是在無線電和微波頻率範圍內的頻率下。儀器和探測裝置，以及將信號路徑延伸到接觸提示的共同平面波導。通過在彈性優惠券上加入可附著在膜上的接觸尖端，實現更長的使用壽命和更低的運行成本，從而實現膜探測裝置的使用壽命和更低的運營成本，該膜包含多個信號、資料和功率傳輸的軌跡。用可附著在空間變壓器上的優惠券替換針型探測裝置的探針，並包括彈性支撐的接觸尖端，還可以通過大幅度降低針型探測儀的性能來提高針型探測裝置的性能。設備的電感。

上面的詳細描述列出了許多具體細節，以便對本發明有透徹的瞭解。然而，本領域技術人員將理解，本發明可以在沒有這些具體細節的情況下進行。在其他情況下，沒有詳細描述眾所周知的方法、程式、元件和電路，以避免掩蓋本發明。

此處引用的所有參考文獻均以參考為內容。

上述規範中使用的術語和運算式用作描述術語，而不是限制，在使用此類術語和運算式時，無意排除顯示和描述的功能等同項，或部分，它被承認，本發明的範圍被界定和限制，只有以下聲明。

結果 (繁體中文) 3:

類似地，膜上的側跡線534的一部分與介面板500的表面上的側跡線504的一部分重疊，膜側跡線532的一部分與介面板波導側跡線506的一部分重疊。在側（地）跡線上，最靠近中心跡線502的凸起墊540對546的位置盡可能接近跡線的內邊緣，這是允許的不對中誤差，並且第二對凸起墊548的位置最好比跡線的第二邊緣更接近膜跡線的中心線。在波導跡線之間的區域攜帶電磁場，並將互連結構的焊盤定位在更靠近電磁場限制區域的位置，從而降低連接的電感。
通過優化同軸電纜之間介面的阻抗，將測試儀器和探測儀器互連，提高了用薄膜探測儀器進行量測的精度，特別是在無線電和微波頻率範圍內的頻率下，以及將訊號路徑延伸至接觸端的共面波導。膜探測裝置的較長使用壽命和較低操作成本可通過在彈性試片上包括接觸端來實現，該彈性試片可附接到膜上，該膜包括可通過其傳輸訊號、數據和功率的多個跡線。用可連接到空間變壓器並包括彈性支承的接觸端的試片替換針式探測裝置的探針也可以通過大幅降低裝置的電感來改善針式探測裝置的效能。
上述詳細描述闡述了許多具體細節，以提供對本發明的透徹理解。然而，本領域科技人員將理解，本發明可以在沒有這些具體細節的情况下實施。在其他情况下，未詳細描述公知的方法、過程、組件和電路以避免混淆本發明。
本文引用的所有參考文獻均通過引用併入。
上述規範中使用的術語和表達作為描述術語而不是限制術語，並且在使用這些術語和表達時，無意排除所示和描述的特徵或其部分的等價物，人們認識到，本發明的範圍僅由以下權利要求來定義和限制。