A Carl Zeiss Ultra 1540 dual beam s

A Carl Zeiss Ultra 1540 dual beam scanning electron microscope (SEM) was used to determine the morphology of the ZnO QDs- graphene composite. High resolution transmission electron micro-scopy (HR-TEM) studies were carried out in a HR-TEM microscope (JEOL2011) at an operating voltage of 200kV. X-ray diffraction (XRD,PANalytical) pattern of the ZnO QDs-graphene composite was measured at room temperature using Cu Kα radiation.

結果 (中文) 1:

卡尔 · 蔡司超 1540年双光束扫描电子显微镜 (SEM) 用于确定 ZnO 油溶性量子点-石墨烯复合材料的形态。HR-透射电镜显微镜 （JEOL2011） 在运行电压 200kV 中进行了高分辨率传输电子微镜下 (HR-透射电镜） 研究。X 射线衍射 （XRD，在室温下使用铜 Kα 辐射测量了 ZnO 油溶性量子点-石墨烯复合材料 PANalytical） 模式。

結果 (中文) 2:

卡尔蔡司超1540双光束扫描电子显微镜（SEM）来确定的氧化锌量子点 - 石墨烯复合材料的形态。高分辨透射电子显微镜检查（HR-TEM）进行了研究，在HR-TEM显微镜（JEOL2011）在为200kV的工作电压。在ZnO量子点的石墨烯复合物的X-射线衍射（XRD，PANalytical公司）图案，使用CuKα辐射在室温下测定。

結果 (中文) 3:

卡尔蔡司超1540双光束扫描电子显微镜（SEM）被用来确定的ZnO量子点的形态-石墨复合材料。高分辨透射电子显微术（HR-TEM）的研究都是在一个HR-TEM显微镜进行（jeol2011）在200kV操作电压。X射线衍射（XRD，帕纳科）在使用铜的Kα辐射室温度测量的ZnO量子点的石墨烯复合模式。