Increase ROI detect-grid from 12um

Increase ROI detect-grid from 12um to 20um for reduce the sensitive of test-key detection, and decrease trigger-length from 100um to 50um for keep real chipping catch-performance.

結果 (繁體中文) 1:

從12um的提高投資回報率檢測，電網20um的用於減少敏感測試鍵檢測
，並減少觸發長度從100um的到50微米的保持實時捕捉碎裂性能。

結果 (繁體中文) 2:

將 ROI 檢測網格從 12um 提高到 20um，以減少測試金鑰檢測的敏感
，並將觸發長度從 100um 減小到 50um，以保持真正的切屑捕獲性能。

結果 (繁體中文) 3:

將ROI檢測網格從12um新增到20um以降低測試金鑰檢測的敏感度
，並將觸發長度從100um减小到50um，以保持真正的碎屑捕集效能。