Bilayer or few-layer TMD materials used for applications11–13and funda的繁體中文翻譯

Bilayer or few-layer TMD materials

Bilayer or few-layer TMD materials used for applications11–13and fundamental studies14–20 are mainly derived throughmicromechanical exfoliation, limited by low yield, poor controllabilityin layer number and size. Post-treatment using laser21,plasma22,23, patterning method24, and thermal annealing25 alsoproduces few-layer, bilayer, and monolayer flakes but show sameconstrains. Contrary to these top-down methods, the bottom-upchemical vapor deposition (CVD) approach is highly regardedas one of the most promising ways to produce TMD multilayers26–29. However, the as-produced TMD structures are typicallypolycrystalline with the many randomly oriented domainsand domain boundaries, which inevitably diminish their deviceperformance29–33. Other common issues include co-existence ofareas with monolayer, bilayer, trilayer and few-layer structures,small crystal size (typically in the 10–30 μm range), and lowprocess yield26,34.
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用於applications11-13雙層或少層TMD材料<br>和基本studies14-20通過主要衍生<br>微機械剝離,由產量低,控制性差限制<br>在層數量和大小。使用laser21,後處理<br>plasma22,23,構圖method24和熱annealing25也<br>產生少層,雙層,和單層薄片,但顯示相同的<br>約束。相反,這些頂向下方法中,自下而上<br>化學氣相沉積(CVD)的方法是高度重視<br>作為最有希望的方法來生產一個TMD multilayers26- <br>29.但是,如此生產的TMD結構通常<br>多晶與許多隨機取向的網域<br>和域邊界,這不可避免地降低了其設備<br>performance29-33。其他常見的問題包括共存<br>有單層,雙層,三層和少層結構,面積<br>小的晶體尺寸(通常在10-30微米範圍內),和低的<br>過程yield26,34。
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用於應用的雙層或幾層 TMD 材料11_13<br>和基礎研究14-20主要通過<br>微機械去角質,受低產量、低可控性的限制<br>層數和大小。使用鐳射進行後處理21<br>等離子體22,23,圖案方法24,熱退火25也<br>產生幾層、雙層和單層片,但顯示相同<br>約束。與這些自上而下的方法相反,自下而上<br>化學氣相沉積(CVD)方法受到高度重視<br>作為生產TMD多層的最有希望的方法之一26。<br>29. 然而,作為生產的TMD結構通常是<br>具有許多隨機定向域的多晶<br>和域邊界,這不可避免地減少了他們的設備<br>性能29~33。其他常見問題包括<br>具有單層、雙層、三層和幾層結構的區域,<br>小晶體尺寸(通常在 10~30 μm 範圍內),低<br>工藝產量26,34。
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用於應用的雙層或多層TMD資料11–13<br>基礎研究14-20主要通過<br>微機械剝落,產量低,可控性差<br>在層數和大小上。使用laser21進行治療後,<br>电浆22、23、圖案化方法24和熱退火25<br>生成很少的層、雙層和單層薄片,但顯示相同<br>約束。與這些自上而下的方法相反<br>化學氣相沉積(CVD)方法受到高度重視<br>作為生產TMD多層膜最有希望的方法之一26–<br>29歲。然而,實際生產的TMD結構通常是<br>具有許多隨機取向疇的多晶<br>以及域邊界,這不可避免地减少了它們的設備<br>表演29–33。其他共同問題包括<br>具有單層、雙層、三層和少量層結構的區域,<br>小晶體尺寸(通常在10-30μm範圍內),低<br>工藝產量26,34。<br>
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