Figure [NaN] demonstrates how the p

Figure [NaN] demonstrates how the particle size of a powder compact influences its optical properties. In a preliminary study, powder compacts have been prepared using amorphous SiO2 (quartz glass) powders with two different particle size distributions, that is, with a d50 of 10 μm and 300 nm, respectively. A more comprehensive study of the particle‐size‐dependent optical properties of ceramic powder compacts will be published elsewhere. In brief: The optical properties of the powder compacts have been measured by employing a Lambda 900 UV/Visible/NIR spectrophotometer from Perkin Elmer. Clearly seen is a change in the relative reflected intensity. While the powder compact made from a SiO2 powder with a d50 of 10 μm reflects almost all intensity over the entire spectral range measured, the powder compact made from the finer powder clearly shows a reflectivity progressively decreasing from 1 μm to 2.5 μm wavelengths. According to the low k value of SiO2 in this wavelength range, a significant portion of the impinging light is transmitting the compact (data are not shown here). Thus, by using even finer SiO2 powders, it will be possible obtaining an appreciable transitivity of SiO2 powder compacts at the technically relevant laser wavelength of 1 μm. In this context, it is worth mentioning that lasers in an output power range of 100 W cw.and emitting at about 2 μm wavelength have emerged on the market recently. The absorbance of the powder compact can be tuned by adding the right portion of highly absorbing material to the initial ceramic powder. As a result, a better control of the sintering process and a faster and more uniform sintering will be achieved.

結果 (繁體中文) 1:

圖[NaN的]演示如何粉末壓塊的影響的粒度它的光學性質。在初步研究中，粉末壓塊已使用無定形的SiO 2（石英玻璃）具有兩種不同的粒徑分佈的粉末，也就是，具有分別為10微米至300納米，D50編寫的。陶瓷粉末壓塊的粒度相關的光學性質的更全面的研究將在別處公佈。簡而言之：將粉末壓塊的光學特性已經通過使用來自Perkin Elmer的一個lambda 900紫外/可見/近紅外分光光度計測定。清楚地看到是在相對反射強度的變化。而從一個SiO2粉末以10μm的d50取得的粉末壓塊反映幾乎所有測量在整個光譜範圍內強度，從較細粉末製成的壓粉成形體清楚地示出的反射率逐漸地從1微米至2.5微米的波長減小。根據在該波長範圍的SiO 2的低的k值，入射光的顯著部分被發送緊湊（數據此處未示出）。因此，通過使用更精細的SiO 2粉末，將有可能以1μm的技術相關的激光波長獲得SiO2粉末壓塊的明顯傳遞性。在這方面，值得一提的是，在100瓦cw.and的輸出功率範圍內的激光器在微米約2已經出現在市場上最近波長發光。粉末壓塊的吸光度可通過添加高吸收性材料的右部到初始陶瓷粉末進行調諧。結果是，

結果 (繁體中文) 2:

圖 [NaN] 演示了粉末緊湊型的顆粒大小如何影響其光學特性。在初步研究中，粉末壓縮用非晶態SiO2（石英玻璃）粉末，具有兩種不同的顆粒大小分佈，即分別為10μm和300nm的d50。在其他地方將發表一份關於陶瓷粉末壓縮物顆粒尺寸相關光學特性的更全面的研究。簡而言之：使用 Perkin Elmer 的 Lambda 900 UV/可見光/近紅外分光光度計測量了粉末壓縮的光學特性。清晰可見的是相對反射強度的變化。雖然由 DiO2 粉末製成的粉末壓縮量為 d50 的 10 μm，反映了整個光譜範圍內幾乎所有強度，但由更精細粉末製成的粉末壓縮明顯顯示反射率逐漸從 1 μm 到 2.5 μm 波長。根據此波長範圍內 SiO2 的低 k 值，衝擊光的很大一部分正在傳輸壓縮（此處未顯示資料）。因此，通過使用更精細的 SiO2 粉末，在技術上相關的鐳射波長為 1 μm 時，可以獲得 SiO2 粉末壓縮的可明顯傳遞性。在此背景下，值得一提的是，輸出功率範圍為100 W cw和發射波長約為2μm的雷射器最近在市場上出現。通過在初始陶瓷粉末中加入高吸收材料的正確部分，可以調整粉末壓縮的吸光度。因此，將實現對燒結過程的更好控制和更快、更均勻的燒結。

結果 (繁體中文) 3:

圖[NaN]展示了粉末壓坯的細微性如何影響其光學特性。在初步研究中，採用非晶態二氧化矽（石英玻璃）粉末製備了兩種不同粒徑分佈的粉末壓坯，即d50分別為10μm和300nm。有關陶瓷粉末壓坯的顆粒尺寸相關光學特性的更全面的研究將在其他地方發表。簡要介紹：採用Perkin-Elmer公司的Lambda 900紫外/可見/近紅外分光光度計對粉末壓坯的光學效能進行了測試。清晰可見的是相對反射强度的變化。當由d50為10μm的SiO2粉末製成的粉末壓坯在整個量測的光譜範圍內幾乎反映所有强度時，由較細的粉末製成的粉末壓坯明顯地顯示出從1μm到2.5μm波長的反射率逐漸减小。根據該波長範圍內二氧化矽的低k值，撞擊光的很大一部分正在傳輸緊湊型（此處未顯示數據）。囙此，通過使用更細的二氧化矽粉末，將有可能在科技上相關的雷射波長為1μm時獲得明顯的二氧化矽粉末壓坯過渡性。在這種情況下，值得一提的是，最近市場上出現了輸出功率範圍為100w cw、發射波長約為2μm的雷射器。粉末壓坯的吸光度可以通過在初始陶瓷粉末中添加適當的高吸收資料來調節。囙此，可以更好地控制燒結過程，實現更快、更均勻的燒結。