in a sufficiently thin layer with r

in a sufficiently thin layer with respect to the thickness of a QCM's quartz resonator, the relationship between the additional mass,corresponding to the layer of the substance to be detected,and change in resonant frequency is expressed by equation as derived by Sauerbrey

結果 (中文) 1:

在足够薄层厚度的 QCM 石英谐振器，附加质量，对应层的物质被检测到，并更改在谐振频率之间的关系就被表示方程导出了绍尔布赖

結果 (中文) 2:

在一个足够薄层相对于一QCM的石英振子的厚度，待检测对应于物质的层中的附加质量之间的关系，和在谐振频率的变化由等式表示为索尔布雷衍生

結果 (中文) 3:

在一个足够薄的层相对于QCM的石英谐振器的厚度，附加质量之间的关系，相应的物质层被检测到，并在谐振频率的变化是由方程导出的绍尔布赖表达