Test methodAlthough pretreatment/pr

Test methodAlthough pretreatment/pre-concentration method can remove matrix interference and get low detection limit, yet the risk of contamination introduction exist.For ultrapure semiconductor chemicals (metallic impurity lower than 10 ppt level), ICPMS is the technique of choice for measurement.

結果 (中文) 1:

测试方法
虽然预处理/预浓缩方法可以消除基质干扰，并得到检出限低，但污染引进存在的风险。
超纯化学品半导体（金属杂质超过10 ppt级降低），ICPMS为测量选择的技术。

結果 (中文) 2:

测试方法
虽然预处理/预浓缩方法可以消除基质干扰，获得低检测极限，但存在污染引入的风险。
对于超纯半导体化学品（金属杂质低于10ppt水平），ICPMS是测量的首选技术。

結果 (中文) 3:

试验方法
虽然预处理/预浓缩方法可以去除基体干扰，检测限低，但存在污染引入的风险。
对于超纯半导体化学品（金属杂质低于10 ppt水平），ICPMS是测量的首选技术。