This set of tests should not be use

This set of tests should not be used indiscriminately. Each qualification project should be examined for:
a) Any potential new and unique failure mechanisms.
b) Any situations where these tests/conditions may induce invalid or overstress failures.

If it is known or suspected that failures either are due to new mechanisms or are uniquely induced by the severity of the test conditions, then the application of the test condition as stated is not recommended. Alternatively, new mechanisms or uniquely problematic stress levels should be addressed by building an understanding of the mechanism and its behavior with respect to accelerated stress conditions (Ref. JESD91, “Method for Developing Acceleration Models for Electronic Component Failure Mechanisms” and JESD94, “Application Specific Qualification using Knowledge Based Test Methodology”).

Consideration of PC board assembly-level effects may also be necessary. For guidance on this, refer to JEP150, Stress-Test-Driven Qualification of and Failure Mechanisms Associated with Assembled Solid State Surface-Mount Components.

This document does not relieve the supplier of the responsibility to assure that a product meets the complete set of its requirements.

結果 (中文) 1:

这组测试不能随便使用。每个资格项目还应检查的︰a） 任何潜在的新的和独特的失效机理。b） 任何情况下，在那里这些测试条件可能会诱使无效或过压故障。如果它是已知或怀疑故障是由于新的机制，或唯一诱发的严重程度的测试条件，然后不推荐测试条件所述的应用程序。另外，新的机制或唯一有问题的应激水平应予通过建立机制和加速的应力条件 （"应用程序特定资格使用知识基础测试方法"、"方法为发展加速模型的电子组件失效机理"和 JESD94 参考文献 JESD91） 对其行为的理解。必要时也可考虑的 PC 板程序集级影响。在这上的指导，请参阅 JEP150、 Stress-Test-Driven 资格和失效机制与组装固体状态表面贴装组件相关联。本文档并不免除责任的供应商，以确保产品符合其要求的完整集合。

結果 (中文) 3:

这组测试不应该不分地使用。应检查每一个资质项目：任何潜在的新的和独特的失效机制。b）任何情况下，这些测试条件可能导致无效或过应力失效。如果它是已知或怀疑的故障，无论是由于新的机制或独特地诱导的测试条件的严重程度，那么，不推荐使用的测试条件下的应用。另外，新机制或唯一有问题的应力水平应通过建立与加速应力条件下的行为机理的认识（参考文献jesd91”方法，解决发展加速度模型电子元器件失效机理”和“特定资格jesd94，应用基于知识的测试方法”）。考虑到PC板组件级的影响也可能是必要的。为指导，参考jep150，压力测试驱动和失效机理与组装的固态表面贴装元件相关的资格。本文件不免除供应商的责任，以确保一个产品符合其要求的完整。