After a good measurement model was

After a good measurement model was obtained (model fit, reliability and validity), a structural model was developed and SEM was carried out. SEM is defined as ‘multivariate technique combining aspects of factor analysis and multiple regression that enables the researcher to simultaneously examine a series of interrelated dependence relationships among the measured variables and latent constructs as well as between several latent constructs’ (Hair et al., 2010, p. 634). SEM is used in this research because it is ‘not only assessing each of the relationships simultaneously rather than in separate analysis, but also incorporating the multi-item scales in the analysis to account for measurement error associated with each of the scales’ (Hair et al., 2010, p. 20).

結果 (繁體中文) 1:

獲得良好的測量模型後（模型擬合，可靠性和有效性），結構模型的開發和SEM進行。SEM被定義為“多變量技術相結合以及之間的幾個潛在構建體因子分析和多元回歸，使研究者能夠同時檢查一系列的測量變量和潛在構建體之間相互關聯的依賴關係的各方面”（髮型等人，2010 ，第634）。SEM是本研究使用，因為它“不僅評估每個關係的同時，而不是單獨的分析，同時也包含在分析多物品尺度來說明與每個尺度的相關測量誤差”（頭髮等人，2010，第20頁）。

結果 (繁體中文) 2:

在得到良好的測量模型（模型擬合、可靠性和有效性）後，建立了結構模型，並進行了SEM。SEM 被定義為"多變數技術，結合了因數分析和多重回歸的各個方面，使研究人員能夠同時檢查測量變數和潛在構造之間的一系列相互關聯的依賴關係以及幾個潛在構造之間（Hair等人，2010年，第634頁）。SEM 用於此研究，因為它不僅同時評估每個關係，而不是在單獨的分析中，而且還在分析中納入了多專案比例，以考慮與每個"（Hair等人，2010年，第20頁）。

結果 (繁體中文) 3:

在獲得了良好的量測模型（模型擬合、信度和效度）後，建立了結構模型並進行了掃描電鏡分析。SEM被定義為“結合因素分析和多元回歸的多變數科技，使研究人員能够同時檢查被測變數和潜在結構之間以及幾個潜在結構之間的一系列相互關聯的依賴關係”（Hair等人，2010年，第634頁）。在本研究中使用掃描電鏡是因為它“不僅是同時評估每個關係，而不是單獨分析，而且還將多項目量表納入分析，以說明與每個量表相關的測量誤差”（Hair等人，2010年，第20頁）。