The multipoint-to-plane electrostat

The multipoint-to-plane electrostatic precipitator (MPPESP) is one type of ESP devices used for the sampling and the control of nanoparticles and sub-micron particles with the advantages of low pressure drop and high particle collection efficiency. Several empirical equations for predicting the particle collection efficiency are available in the literature but most of them are only applicable to wire-to-plate ESPs. For ESPs with different discharge electrodes, the empirical equations are different since the ion concentration and electric fields are different. In this thesis, a predictive method is developed to calculate the particle migration velocity and the particle collection efficiency equation η(%) of MPPESPs in the form as η(%) = 1−exp−+(+×100% in which β1, β2, β3 and β4 are regression coefficients, which equal 6.122, 0.7289, -3.273 and 0.5821, respectively and NDe is the Deutsch number determined by the particle migration velocity. Good agreement is obtained between the present model predictions and experimental particle collection efficiencies obtained from the literature. Present experimental results showed that the collection efficiency of the present MPPESPs decreases with an increasing air flow rate and a decreasing applied voltage and the ion current decreases with an increasing point-to-plane spacing, an increasing needle tip radius, a decreasing point-to-point spacing, a decreasing needle length. Good agreement is obtained between the present model predictions and experimental particle collection efficiencies obtained from the literature and the present study. Therefore present model can be used to facilitate the design of efficient MPPESPs for nanoparticle and sub-micron particles removal.

結果 (繁體中文) 1:

多點至平面靜電除塵器（MPPESP）是一種類型的ESP裝置
用於採樣和納米顆粒和亞微米顆粒的與控制
低壓降和高的顆粒收集效率的優點。一些經驗
用於預測顆粒收集效率方程是在文獻中獲得，但
其中大多數是只適用於線對板靜電除塵器。對於具有不同的ESP放電
電極，所述經驗公式是由於離子濃度不同，並且電場
是不同的。在本文中，預測方法進行顯影，以計算粒子
的遷移速度和在MPPESPs的顆粒收集效率η方程（％）
？形成為η（％）= 1-EXP？ - ？?????? + ??（???? +···×100％，其中β1，β2，β3和
β4是回歸係數，它等於6.122，0.7289，-3.273和0.5821，分別和
NDE在德語數量來確定由所述顆粒遷移速度。是好的協議
本模型預測和實驗顆粒收集之間獲得
從文獻中獲得的效率。本發明的實驗結果表明，
本MPPESPs的收集效率與增加的空氣流率減小，並且一個
降低施加的電壓和離子電流隨著增加的點到平面減小
間距，越來越針尖端半徑，減小的點至點的間距，減少的
針的長度。在本模型預測之間取得了良好的協議，
從文獻中獲得的實驗粒子收集效率和目前的研究。
因此本模型可用於促進高效MPPESPs的設計
納米顆粒和亞微米顆粒的去除。

結果 (繁體中文) 2:

多點對平面靜電除塵器 （MPPESP） 是 ESP 器件的一種類型
用於對納米粒子和亞微米粒子的採樣和控制。
具有低壓降、高顆粒收集效率的優點。幾個經驗
用於預測粒子收集效率的方程在文獻中可用，但
其中大多數僅適用于線對板 ESP。對於具有不同放電的 ESP
電極，經驗方程是不同的，因為電濃度和電場
是不同的。本文開發了一種預測方法，用於計算粒子
遷移速度和粒子收集效率方程在
形式為 [（%） = 1=exp]+(+±100%，其中 +1、+2、#3 和
*4 是回歸係數，分別等於 6.122、0.7289、-3.273 和 0.5821 和
NDe 是由粒子遷移速度確定的德國數位。良好的協定是
在目前模型預測和實驗粒子集合之間獲得
效率從文獻中獲得。目前的實驗結果表明，
目前的MPPESP的收集效率隨著氣流速率的增加和
降低施加電壓，隨著對平面點的增加，電電流降低
間距、增加的針尖半徑、逐漸減小的點對點間距、遞減
針的長度。在目前的模型預測和
實驗粒子收集效率從文獻和本研究中獲得。
因此，目前的模型可用於促進設計高效的MPPESP
納米顆粒和亞微米顆粒去除。

結果 (繁體中文) 3:

多點對平面電除塵器是電除塵器的一種裝置
用於納米顆粒和亞微米顆粒的取樣和控制
具有壓降低、顆粒收集效率高等優點。幾個經驗的
預測顆粒收集效率的方程式可在文獻中找到，但是
它們大多只適用於線對板靜電除塵器。對於不同放電的ESP
電極，由於離子濃度和電場，經驗公式不同
是不同的。本文提出了一種預測粒子數的方法
中MPPESPs的遷移速度和顆粒收集效率方程
形式為η（%）=1-exp-+（+×100%），其中β1、β2、β3和
β4為回歸係數，分別為6.122、0.7289、-3.273和0.5821
NDe是由粒子遷移速度確定的Deutsch數。好的協定是
在現有模型預測和實驗粒子收集之間獲得
從文獻中獲得的效率。現時的實驗結果表明
現時MPPESP的收集效率隨著空氣流量的新增和
降低外加電壓，離子電流隨點對面增大而减小
間距，新增針尖半徑，减小點對點間距，减小
針的長度。現時的模型預測與
從文獻和本研究中獲得的實驗粒子收集效率。
囙此，本模型可用於設計有效的MPPESP
納米和亞微米顆粒去除。