The typical I–V characteristics and

The typical I–V characteristics and transient response of the UV photodetector were measured using a HP4155B semiconductor parameter analyzer under dark and with UV illumination at 335 nm. The photo-responsivity of the device was measured by Shimadzu UV–vis 2550 spectrophotometer with a deuterium lamp (190–390nm) and a halogen lamp (280–1100nm).

結果 (中文) 1:

第的典型特征和紫外探测器的瞬态响应用来衡量 HP4155B 半导体参数分析仪和紫外线照射下黑暗在 335 nm。设备照片-响应率被测量由岛津 UV–vis 2550 分光光度计氘灯 (190–390nm) 和卤素灯 (280–1100nm)。

結果 (中文) 2:

使用下黑暗，并与在335 nm的紫外光照射一个HP4155B半导体参数分析仪的典型的I-V特性以及紫外光检测器的瞬态响应进行了测量。光响应的设备是由岛津紫外可见分光光度计2550用氘灯（190-390nm的）和卤灯（280-1100nm的）测量。

結果 (中文) 3:

典型的我–V特性和紫外探测器的瞬态响应进行了测量使用hp4155b半导体参数分析仪在黑暗和紫外照射在335 nm处。通过紫外可见分光光度计–岛津2550和氘灯测量设备的光响应度（190–390nm）和卤素灯（280–1-100nm）。