The Michelsointerferometer halos ng

The Michelsointerferometer halos ng been a popular piece of equipment in the physics under- graduate laboratory. One possible application is the measurement of the refractiviendex of tahin parallel-side plate of transparent material of known thickness(.Alternatively, if the refractiveindex is known, thethickness of the plate maybe determined.) This is accomplished by using'whitelight' fringes superimposeodmn onochromatic fringes and is described in standardlaboratorymanuals(Whittle andYarwood 1973). In thisarticle anothermethod for measurintghe refractiviendex is described. Monochromatic fringes are used and plates ranging in thicknesfsrom a few micrometretso several millimetres may be measured.

結果 (繁體中文) 1:

該Michelsointerferometer暈NG一直在物理學研究生不足實驗室中流行的設備。一個可能的應用是公知的厚度（。或者，如果refractiveindex是已知的，該板的thethickness也許確定。）這是通過using'whitelight'條紋superimposeodmn onochromatic完成的透明材料的tahin平行側板的refractiviendex的測量條紋和在standardlaboratorymanuals（Whittle的andYarwood 1973）中所述。在本條anothermethod為measurintghe refractiviendex進行說明。單色條紋被使用，並且板測距thicknesfsrom幾micrometretso幾毫米可以被測量。

結果 (繁體中文) 2:

Michelso干擾儀光環是物理實驗室中流行的設備。一個可能的應用是測量已知厚度的透明材料塔赫因平行側板的折射率（）。或者，如果折射率已知，則可能確定板的厚度。這是通過使用"白光"邊緣在色度邊緣上加成的，並在標準實驗室手冊中描述（Whittle和Yarwood 1973）。本文介紹了另一種方法。使用單色邊緣，可以測量厚度在幾微米的板塊幾毫米。

結果 (繁體中文) 3:

michelsointerferemeter是研究生實驗室物理學中一種很受歡迎的儀器。一種可能的應用是量測厚度已知的透明資料平行側板的折射率（或者，如果折射率已知，這是通過使用“白光”條紋疊加單色條紋實現的，並在標準實驗室手册（Whittle和Yarwood 1973）中進行了描述。本文介紹一種測定折射率的熱法。使用單色條紋和厚度從幾微米到幾毫米的平板，囙此可以量測幾毫米。