All resistivity measurements were h

All resistivity measurements were highly repeatable and reproducible, characterised by an average standard deviation of 0.05 Ωm and a maximum of 0.28 Ωm, and thus all resistivity data were retained for inversion. The data were inverted using the DCIP2D algorithm (Oldenburg and Li, 1994; Li & Oldenburg, 2000) with a default Chi-factor to obtain smoothly varying 2D models of bulk resistivity.

結果 (繁體中文) 1:

所有電阻率測量是高度可重複的和可再現的，其特徵在於0.05Ωm的平均標準偏差和最大0.28的Ωm的，並且因此所有電阻率數據被保留為反轉。具有默認馳因子，以獲得平滑變化的二維模型的體電阻率的;所述數據使用DCIP2D算法（立奧登堡，2000奧登堡和Li，1994）反轉。

結果 (繁體中文) 2:

所有電阻率測量都是高度可重複和可重複的，其特徵是平均標準差為0.05 Ω，最大值為0.28 Ωm，因此所有電阻率資料都保留為反演。資料使用DCIP2D演算法倒置（奧爾登堡和李，1994年;Li & Oldenburg，2000）與預設的奇因數，以獲得平滑變化的散裝電阻率的2D模型。

結果 (繁體中文) 3:

所有電阻率量測都具有高度的重複性和再現性，其特徵是平均標準差為0.05Ωm，最大值為0.28Ωm，囙此所有電阻率數據都被保留下來進行反演。使用DCIP2D算灋（Oldenburg and Li，1994；Li&Oldenburg，2000）對數據進行反演，並使用默認的Chi因數，以獲得平滑變化的體電阻率二維模型。