in a sufficiently thin layer witj r

in a sufficiently thin layer witj respect to the thickness of a QCM's quartz resonator, the relationship between the additional mass,corresponding to the layer of the substance to be detected,and change in resonant frequency is expressed by equation as derived by Sauerbrey

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結果 (中文) 1: [復制]

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厚度的 QCM 石英谐振器，附加质量，对应层物质被检测，并更改在谐振频率的关系足够薄层单身方面表示出的方程导出了绍尔布赖

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結果 (中文) 2:[復制]

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在足够薄层witj相对于QCM的石英振子的厚度，待检测对应于物质的层中的附加质量之间的关系，和在谐振频率的变化由等式表示为索尔布雷衍生

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結果 (中文) 3:[復制]

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在一个足够薄的层：对QCM的石英谐振器的厚度，附加质量之间的关系，相应的物质层被检测到，并在谐振频率的变化是由方程导出的绍尔布赖表达

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