In the single scattering regime, th

In the single scattering regime, the resolution limit is given by the Rayleigh-Abbe criterion. It has been demonstrated that this limit can be strongly overcome when multiple scattering becomes predominant. In this case numerical inversion algorithms based on a rigorous resolution of Maxwell’s equations must be used. Recently preliminary numerical simulations have demonstrated [11,12] the potentialities of ODTM applied to profilometry.

結果 (中文) 2:

在单次散射制度，分辨率限制由瑞利阿贝判据给出。已经证明，这种限制可以当多个散射成为主导牢固地克服。在这种情况下，必须使用基于麦克斯韦方程组的严格分辨率数值反演算法。最近初步数值模拟已经证明[11,12] ODTM的潜力应用于轮廓。

結果 (中文) 3:

在单次散射机制，分辨率的极限是由瑞利阿贝准则。它已被证明，这个限制可以被强烈地克服，当多个散射变得占主导地位。在这种情况下，数值反演算法的基础上，必须使用麦斯威尔方程的严格解析。最近的初步数值模拟表明[11,12]的膜应用于轮廓的潜力。