Tapping mode atomic force microscop

Tapping mode atomic force microscope (AFM) (D5000,Veeco) was used to characterize the surface roughness of the active layers prepared by spin-coating polymer solution onto Ca-coated ITO glass. The device structure is shown in Fig. 1.

結果 (繁體中文) 1:

使用輕敲模式原子力顯微鏡（AFM）（D5000，Veeco）對透過旋塗聚合物溶液到鍍鈣ITO玻璃上製備的主動層的表面粗糙度進行表徵。裝置結構如圖1所示。

結果 (繁體中文) 2:

使用輕敲模式原子力顯微鏡（AFM）（D5000，Veeco）來表徵通過將聚合物溶液旋塗到Ca塗層的ITO玻璃上製備的活性層的表面粗糙度。 器件結構如圖1所示。

結果 (繁體中文) 3:

輕敲模式原子力顯微鏡（AFM）（d 5000，Veeco）用於表徵通過將聚合物溶液旋塗到塗有鈣的ITO玻璃上製備的活性層的表麵粗糙度。器件結構如圖1所示。