A typical hazard (failure rate) fun

A typical hazard (failure rate) function of an item/a system within its life cycle is shown in Fig. 1, including infant mortality, useful life, and wear-out periods. Usually the infant mortality failures are related to the manufacturing and debugging processes and they have been solved before operating the item/system. Therefore, the item will experience random chance failures within its useful lifetime. Moreover, due to the aging of materials, the item may enter wear-out phase depending on the material strength and applied stresses within long-term operation.

結果 (繁體中文) 1:

圖1顯示了物品/系統在其生命週期內的典型危險（故障率）函數，包括嬰兒死亡率、使用壽命和磨損期。通常，早期死亡率故障與製造和調試過程有關，並且在操作項目/系統之前已解決。因此，該物品在其使用壽命內會經歷隨機偶然故障。此外，由於材料的老化，根據材料強度和長期運行中施加的應力，該物品可能會進入磨損階段。

結果 (繁體中文) 2:

項目/系統在其生命週期內的典型危險（故障率）函數如圖所示。1，包括嬰兒死亡率、使用壽命和磨損期。 通常，嬰兒死亡故障與製造和調試過程有關，並且在操作項目/系統之前已經解决。 囙此，該項目在其使用壽命內將經歷隨機的偶然故障。 此外，由於資料的老化，物品可能會進入磨損階段，這取決於資料强度和長期操作中施加的應力。

結果 (繁體中文) 3:

項目/繫統在其生命週期內的典型危險(故障率)函數如圖1所示，包括嬰兒死亡率、使用壽命和磨損期。通常，嬰兒死亡故障與製造和調試過程有關，並且在操作項目/繫統之前已經得到解決。因此，該物品在其有效壽命內將經曆隨機的偶然故障。此外，由於材料的老化，物品可能會進入磨損階段，這取決於材料強度和長期操作中施加的應力。