The determination of differential p

The determination of differential phase introduced bydisplacement with interferometric technique is widelyemployed, for example, in the production control [1] orlever deflection of atomic force microscope [2] where thenon-contact and high resolution with nanometric scale isrequired. These measurements also require many aspectsof design, instrumentation and analysis techniques. Amongvarious interferometric interrogation methods for measuring the displacement in real time, quadrature detectionassociates with homodyne [3] or heterodyne [4] interferometry is attractive. This is because the quadrature detectionpermits wide dynamic range on phase measurement dueto high resolution of fringe sub-division and the capabilityof direct accessing the instantaneous differential phase.Moreover, the in phase signal and its quadrature component can be treated as the components of a vector in complex coordinate, the direction of rotation of this vector andthe phase represented by the rotation angle can be determined, which resolves the 2p phase ambiguity in traditionalinterferometric technique. However, in typical quadraturedetection technique, the separation of signal in equalamplitudes is required and an exact p/2 phase shift of localoscillator is required to extract the in phase and quadraturecomponents, these two requirements are difficult to achievesince the non-ideal response of electronic device involved.Thereby, a more complicate differential quadrature phasedetection scheme for eliminating the non-ideal responsewas proposed by Vergamota et al.

結果 (繁體中文) 1:

通過引入差分相位的確定
與干涉測量技術位移被廣泛
使用，例如，在生產控制[1]或
原子力顯微鏡[2]，其中的槓桿偏轉
被非接觸式和高分辨率用納米尺度
必需的。這些測量還需要很多方面
的設計，儀表和分析技術。間
的各種干涉審訊方法用於實時測量所述位移，正交檢測
與零差[3]或外差同事[4]干涉是有吸引力的。這是因為正交檢測
允許在相位測量由於寬的動態範圍
到條紋細分的高分辨率和能力
的直接訪問的瞬時差分相位。
此外，在相位信號和它的正交分量可被視為在複雜的矢量的坐標組件，這種載體和的轉動方向
可以被確定由旋轉角表示的相位，它解決了2P相位模糊在傳統
干涉測量技術。然而，在典型的正交
檢測技術，信號在等於所述分離
是必需的振幅和本地的精確的p / 2相移
振盪器需要以提取在同相和正交
分量，這兩個要求是很難實現
因為所涉及的電子裝置的非理想響應。
由此，更複雜的差分正交相
用於消除非理想響應的檢測方案
，提出了通過Vergamota等。

結果 (繁體中文) 2:

差分相的確定
干涉技術帶位現象廣泛
例如，在生產控制 [1] 或
原子力顯微鏡的杠杆偏轉 [2] 其中
非接觸式和高解析度，具有納米尺度
必填。這些測量還需要許多方面
設計、儀器和分析技術。其中
即時測量位移、四合形檢測的各種干涉性訊問方法
與同質 [3] 或異構 [4] 干涉測量的關聯是有吸引力的。這是因為正交檢測
允許在相位測量上獲得寬動態範圍
到高解析度的邊緣分區和能力
直接存取暫態差分相。
此外，相位信號及其交重分量可視為複雜座標中向量的分量、該向量的旋轉方向和
可以確定旋轉角度表示的相位，從而解決傳統中的 2p 相位歧義
干涉技術。但是，在典型的交交
檢測技術，信號的分離相等
振幅和精確的p/2相移局部
振盪器需要提取相位和正交
元件，這兩個要求是很難實現的
因為涉及電子設備的非理想回應。
因此，更複雜的差分四元位
消除非理想回應的檢測方案
由韋爾加莫塔等人提出。

結果 (繁體中文) 3:

微分相位的測定
用干涉科技進行位移量測
例如，用於生產控制[1]或
原子力顯微鏡的杠杆偏轉[2]，其中
納米尺度的非接觸高解析度
必修的。這些量測還需要很多方面
設計、儀器和分析科技。在…之間
實时量測位移的各種干涉審問方法
與零差干涉術或外差干涉術相結合是很有吸引力的。這是因為正交檢測
允許相位量測的寬動態範圍
高解析度的邊緣分區及其效能
直接接入暫態差分相位。
此外，同相訊號及其正交分量可被視為複坐標系中向量的分量、該向量的旋轉方向和
旋轉角度表示的相位可以確定，解决了傳統的2p相位模糊問題
干涉科技。然而，在典型的求積中
檢測科技，訊號分離
需要振幅和精確的p/2相移
振盪器需要選取同相和正交
組件，這兩個需求很難實現
由於涉及到電子器件的非理想響應。
囙此，一個更複雜的微分求積相位
消除非理想響應的檢測方案
由Vergamota等人提出。