The low levels of Si and A1 found i

The low levels of Si and A1 found in leachate 3 indicate that only slight attack of the major silicate components occurs during treatment with NH20H.HCl-HOAc. A relative de- crease of the smectites X-ray diffraction peak is noted, suggesting partial attack of these minerals. Contrary to the results of Chester and Hughes, however, no evidence of chlorite transformation can be observed from X-ray diffraction analysis.

結果 (中文) 1:

低水平的 Si 和 A1 在垃圾渗滤液 3 发现表明主要硅酸盐成分的只是轻微攻击发生在 NH20H 治疗期间。HCl-阿克。蒙脱石 x 射线衍射峰相对 de 折痕被指出，暗示这些矿物的部分攻击。然而，相反对切斯特和休斯的结果没有证据表明亚氯酸盐转型可以从 x 射线衍射分析观察到。

結果 (中文) 2:

Si和A1的低浓度渗滤液3发现表明，只有轻微的主要成分硅酸盐的攻击与NH20H.HCl - 乙酸处理过程中发生。相对去折痕的蒙脱石的X射线衍射峰的注意，这表明这些矿物局部发作。相反，切斯特和休斯的结果，但是，没有证据绿泥石转变可以从X-射线衍射分析观察。

結果 (中文) 3:

Si和Al中发现的水平低3表明，渗滤液处理发生在nh20h.hcl-hoac只有轻微的攻击的主要硅酸盐成分。一个相对的德-蒙脱石X射线衍射峰的折痕指出，表明这些矿物部分攻击。相反，切斯特和休斯的结果，但是，没有证据表明绿泥石变换可以从X射线衍射分析观察。