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本文報導了基於導電原子力顯微鏡 (AFM) 的 AgxAsS2 層電阻
本文報導了基於導電原子力顯微鏡 (AFM) 的 AgxAsS2 層電阻轉換研究
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This paper reports a conductive atomic force microscopy (AFM)-based study of resistive switching in AgxAsS2 layers
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This paper reports the study of resistance conversion in agxass2 layer based on conducting atomic force microscope (AFM)
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In this paper, the resistance conversion of AgxAsS2 layer based on conductive atomic force microscope (AFM) is reported.
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