There shall be no damage of the DUT

There shall be no damage of the DUT enclosure that would allow hazardous voltage parts to be accessed by use of the articulate test finger shown in Figure 1 and the test pin shown in Figure 2.

結果 (繁體中文) 1:

應將允許危險電壓部件由口齒伶俐測試手指顯示在圖 1 和圖 2 中所示的測試針的使用訪問 DUT 外殼沒有損傷。

結果 (繁體中文) 2:

須有在DUT外殼，允許通過使用在圖1所示的口齒試驗指與圖2中所示的測試銷的被訪問危險電壓零件沒有傷害。

結果 (繁體中文) 3:

不得有損壞DUT的外殼，將允許危險電壓零件被使用的表達試驗指在圖1和圖2所示的測試針顯示訪問。