In nearfield scanning optical micro

In nearfield scanning optical microscopes, a tapered optical fiber placed in the vicinity of the surface couples out the evanescent components of the field that carry out information on the subwavelength details of the profile. However, the coupling between the local probe and the sample makes the topography difficult to retrieve from these data. In atomic force microscopes (AFMs) a tip having a radius of curvature of a few nanometers is in contact with the sample. This technique provides nanometric resolution; however, its implementation is restrictive to a laboratory environment. Optical profilometers based on far-field reflectance measurements [1–5] may circumvent the problems mentioned above. However, their lateral resolution is limited by diffraction. Moreover, accurate results can only be obtained if the scattering from the surface can be approximated by single reflections from horizontal tangent planes, which is relevant only when slopes of the profile are small.

結果 (中文) 1:

近场扫描光学显微镜，在圆锥的光学 fiber 放置附近表面夫妇倏逝组件的田野，进行形的亚波长细节信息。然而，当地的探针与样品之间的耦合使地形很难从这些数据中检索。原子力显微镜 (Afm) 中有几个纳米半径的提示是曲率的与样品接触。这种技术提供纳米分辨率;然而，其实施是一个实验室环境的限制。光 profilometers 基于远领域 reflectance 测量 [1-5] 可能绕过上述问题。然而，受衍射限制其横向分辨率。此外，如果从表面散射可以由接近单 reflections 从横向切平面，这是有关的只有当斜坡形小，只可以获得准确的结果。

結果 (中文) 2:

在近场扫描光学显微镜，锥形光音响误码率放置在表面夫妇出开展的廓的亚波长信息的信息场的渐逝分量的附近。但是，本地探针和样品之间的耦合使得地形DIF音响崇拜从这些数据中检索。在原子力​​显微镜（原子力显微镜），其具有几个纳米的曲率半径的尖端与样品接触。该技术提供了纳米分辨率; 然而，它的实现是限制性的实验室环境。光亲科幻lometers基于远场重新FL ecta​​nce测量[1-5]可以规避上述问题。然而，它们的横向分辨率由衍射限制。此外，如果从表面的散射可以通过从水平切面，只有当的廓斜率是小这是相关的单重FL ections近似只能得到准确的结果。

結果 (中文) 3:

在近场扫描光学显微镜，锥形光fiBER放置在表面附近的夫妇fi领域开展对亲fi乐亚波长的细节信息的挥发性成分。然而，在当地的探针与样品的形貌进行DIFfi邪教从这些数据检索的耦合。原子力显微镜（AFM）尖端半径只有几纳米的曲率与样品接触。这种技术提供了纳米级分辨率；然而，它的实施是对实验室环境的限制。光亲filometers基于远场测量flfi重新ectance [ 5 ] 1–可以规避上述问题。然而，它们的横向分辨率是有限的衍射。此外，准确的结果只能是在散射的表面可以近似的单重fl方向从水平切面获得的，这是有关只有当斜坡的亲fi乐小。