These wafer selection and process c

These wafer selection and process controls are designed to exclude the influence of the above factors from the comparison of effective lifetimes between the HJ-IBC cell and the passivated sample.

結果 (繁體中文) 1:

這些晶片的選擇和流程控制被設計為排除上述因素從HJ-IBC電池和鈍化樣品之間EFF？ective壽命的比較的影響。

結果 (繁體中文) 2:

這些晶圓選擇和工藝控制旨在排除HJ-IBC電池和鈍化樣品之間有效壽命的比較中上述因素的影響。

結果 (繁體中文) 3:

這些晶圓選擇和工藝控制旨在排除上述因素對HJ-IBC電池和鈍化樣品有效壽命的影響。